hamelyn-logo

Hilfe

cupon
Nimm drei und zahle nur zwei mit dem Gutschein TRIPLE
cupon
IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

WissenschaftenTechnologie
imageKostenloser Versand
image30 Tage Rückgaberecht
Nur noch eine Einheit verfügbar, beeilen Sie sich!
Zustand

Sichere Zahlung

googlepayapplepayvisamastercardpaypalaexpress

BuchdetailsTaschenbuch

Verlag

Institucion Alfonso el Magnanimo (Valenc

Seiten

104

Sprache

ca, es

Autor: Jose Maria Amigó Descarga

Beschreibung

Este libro, titulado 'IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X', es una introducción a la difracción de rayos X por el método de polvo, el método de Rietveld y el análisis microestructural de caolinitas por DRX. Publicado en 1996 por Alfons el Magnànim, Valencia, este volumen de 104 páginas ofrece una exploración detallada de la caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico.

recommender-banner
JulIA, deine virtuelle BibliothekarinEmpfiehlt dir deine nächste großartige Lektüre

Ähnliche Produkte